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        SURTRONIC DUO地板粗糙度測量儀

        • 更新時間:2019-12-23
        • 瀏覽次數:1442

        SURTRONIC DUO地板粗糙度測量儀
        型號:SURTRONIC DUO
        探頭系統:探頭系統
        表面粗糙度測量范圍:199μm,40μm
        掃描路徑:5mm
        表面粗糙度分辨率:0.01μm
        閾值波長:0.8 mm

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        品牌TaylorHobson/英國泰勒霍普森產地類別進口
        應用領域電子/電池,道路/軌道/船舶,鋼鐵/金屬,航空航天,汽車及零部件

        SURTRONIC DUO地板粗糙度測量儀

         

        型號:SURTRONIC DUO
        探頭系統:探頭系統
        表面粗糙度測量范圍:199μm,40μm
        掃描路徑:5mm
        表面粗糙度分辨率:0.01μm
        閾值波長:0.8 mm
        數據傳輸類型:USB

         

         

        篤摯儀器代理的英國泰勒霍普森粗糙度測量裝置SURTRONIC DUO,具有內部進料單元的移動粗糙度測量裝置,小巧便攜,通用功能,用戶友好的界面,適合地板等表面粗糙度測量。

        應用:
        用戶友好的移動粗糙度測量裝置,用于參數Ra,Rz,Rp,Rv,Rt,Rz1max,R3z(戴姆勒DB N 31007),Rsk,Rq和Rku的標準粗糙度測量。

        執行:
        3.7“彩色液晶顯示屏,zui多顯示4個測量值
        拆分顯示和進紙單元
        兩臺機器之間的藍牙連接(zui大距離2米)
        粗糙度參數符合DIN ISO和ASME標準
        顯示主要輪廓/參數Pa,Pz,Pp,Pv和Pt
        集成滑蓋式探頭,金剛石為5μm
        可以通過迷你USB端口充電

         

        優點:
        InstantOn,從待機模式到測量模式只需5秒鐘
        操作簡單直觀,無需培訓
        測量值保存到下次測量為止
        電池壽命每次充電可達3000次測量

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