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        Fischerscope HM2000微納米壓痕測量系統

        • 更新時間:2020-12-01
        • 瀏覽次數:2755

        Fischerscope HM2000微納米壓痕測量系統一款根據載荷/壓痕深度法**測定馬氏硬度的界面友好而強大的測量系統。并且,其他重要材料特征,如:維氏硬度、壓入彈性模量、或者蠕變行為也可以確定。主要應用領域包括油漆涂料、電鍍鍍層、硬質涂層、聚合物、金屬和玻璃上的涂層等。

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        品牌Helmut Fischer/德國菲希爾價格區間面議
        產地類別進口應用領域電子/電池,道路/軌道/船舶,鋼鐵/金屬,航空航天,汽車及零部件

        Fischerscope HM2000微納米壓痕測量系統

         

        篤摯儀器(上海)有限公司是德國菲希爾Fischer合作多年的正規代理商,專業代理供應德國Fischer便攜式涂鍍層測厚儀,鍍銅測厚儀,庫侖測厚儀,鐵素體含量檢測儀器,電導率儀,防腐涂層測厚儀,校準片標準片,探頭等,一直致力于為客戶提供有關Fischer產品的技術性支持和建議,并提供理想解決方案。

        Fischerscope HM2000微納米壓痕測量系統一款根據載荷/壓痕深度法**測定馬氏硬度的界面友好而強大的測量系統。并且,其他重要材料特征,如:維氏硬度、壓入彈性模量、或者蠕變行為也可以確定。主要應用領域包括油漆涂料、電鍍鍍層、硬質涂層、聚合物、金屬和玻璃上的涂層等。Fischerscope HM2000微納米壓痕測量系統的測試負載范圍在0.1到2000mN,小于100pm的位移分辨率。HM2000 S 是一款測量微硬度的入門級臺式儀器,特別適合測量定位方便的樣品。如需用于自動測量,則具備可編程運行的XY平臺和電動驅動Z軸的HM2000是合適的選擇。這兩種型號都有震動吸收系統和多種樣品定位裝置可供選配。

        菲希爾納米壓痕儀

        特性:

            • 眾多塑性與彈性特性的測定,例如壓痕硬度(可轉換為維氏硬度)、壓痕模量以及蠕變
            • 符合 DIN EN ISO 14577-1 與 ASTM E 2546 標準的材料參數測量與計算
            • 模塊化構造使其能夠靈活適應客戶特定要求,可追溯性更強
            • 壓頭:維氏、柏氏或硬質合金球
            • 測量頭,適用于在恒定溫度下進行的長達數小時的蠕變測量
            • 具有三種倍率的顯微鏡,適用于測量點的準確定位
            • 通過快速行進實現自主、高度準確的零位測定
            • 適用于多測量點自動化測試的可編程 XY 工作臺
            • 通過高性能 WIN-HCU 軟件快速評估并清晰地呈現測量結果

        應用:

            • 研發中的表面表征,例如醫用植入物的硬鉻或陶瓷涂層
            • 復雜幾何形狀(如套管)上的硬度測試
            • 電鍍行業中部件批量生產的連續測試
            • 電路板的質量保證,例如薄金鍍層的電阻測試或絕緣層控制
            • 測試金屬箔的韌性與強度
            • 針對決定磨損的性能測量,例如 PVD 或 CVD 涂層以及硬質材料(如氮化鈦、氮化鉻以及氮化鋁鈦涂層)的硬度與強度
            • 薄 DLC 涂層的機械性能、彈性以及塑性特性
            • 油漆涂層的硬度與彈性測量,例如汽車車漆
            • 測試陽極氧化層的機械性能(硬質陽極氧化層)
            • 驗證涂層的耐刮擦性與耐磨性
            • 針對多個樣品進行自動化測量

        附件(可選):

            • 封閉的測量艙以避免外界干擾,如來自空調機組的氣流
            • 主動阻尼工作臺,以減少振動影響
            • 可加熱的樣品覆蓋層,用于在溫度不斷升高的情況下進行材料測試
            • 原子力顯微鏡 (AFM):記錄樣品的三維表面并測量其他材料參數,如摩擦特性
            • 高精度定位臺,可實現 < 500 nm 的定位精度
            • 更強大的顯微鏡,具有自動對焦與自動對象識別功能
            • 適用于不同樣品的樣品夾具

        應用實例:

        活塞上硬質陽極涂層的硬度測定

        活塞上硬質陽極涂層的硬度測定

        晶圓上的自動測量

        晶圓上的自動測量

        Fischerscope HM2000微納米壓痕測量系統 

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